雷達物位計是一種基于電磁波反射原理進行物位測量的先進設(shè)備，要實現(xiàn)測量無死角（即無盲區(qū)或盡可能減小盲區(qū)），可以從以下幾個方面著手：

一、優(yōu)化天線設(shè)計

天線優(yōu)化：雷達物位計的天線被進一步優(yōu)化處理，以提高信號的發(fā)射和接收效率。

測量范圍與天線：最小測量范圍通常與天線的設(shè)計有關(guān)。通過改進天線結(jié)構(gòu)，可以減小測量盲區(qū)，從而擴大測量范圍。

二、信號處理技術(shù)

快速微處理器：內(nèi)部采用新型的快速微處理器，能夠進行更高速率的信號分析處理，提高測量精度和響應(yīng)速度。

信號增強：通過先進的信號處理技術(shù)，如信號放大、濾波和降噪等，增強反射信號的強度和質(zhì)量，從而更準(zhǔn)確地測量物位。

三、測量參數(shù)設(shè)置

零點設(shè)置：若介質(zhì)為低介電常數(shù)，當(dāng)其處于低液位時，罐底可見。為保證測量精度，建議將零點設(shè)置在低高度為C的位置。

安全距離：對于過溢保護，可以定義一段安全距離附加在盲區(qū)上，以確保測量的安全性和準(zhǔn)確性。

測量范圍限制：當(dāng)測量范圍超出時，儀表輸出為22mA電流，這可以作為超量程的警示信號。

四、測量條件考慮

罐底形狀：測量范圍從波束觸及罐底的那一點開始計算。在特殊情況下，若罐底為凹型或錐形，當(dāng)物位低于此點時無法進行測量。因此，在選擇雷達物位計時，需要考慮罐底的形狀和尺寸。

介質(zhì)特性：不同濃度的泡沫既能吸收微波，又能反射微波。在一定的條件下，雷達物位計可以進行測量，但需要考慮泡沫對測量結(jié)果的影響。

腐蝕和粘附：理論上測量可以達到天線尖端的位置，但考慮到腐蝕及粘附的影響，測量范圍的終值應(yīng)距離天線的尖端至少100mm。

綜上所述，雷達物位計通過優(yōu)化天線設(shè)計、采用先進的信號處理技術(shù)、合理設(shè)置測量參數(shù)以及考慮測量條件等多種方式，可以實現(xiàn)測量無死角或盡可能減小盲區(qū)。在選擇和使用雷達物位計時，需要根據(jù)實際應(yīng)用場景和需求進行綜合考慮和選擇。